中科院分子影像重点实验室研发的磁粒子成像关键核心技术
获国家发明专利快速授权

  

中科院分子影像重点实验室申请的“基于FFL的磁粒子成像三维立体重建方法、系统、装置”(ZL201910637247.7)和“基于无磁场线扫描的磁粒子成像系统” (ZL201910637709.5)两项国家发明专利已经通过国家知识产权局的审查。其中“基于FFL的磁粒子成像三维立体重建方法、系统、装置”的授权发明专利同时获得美国发明专利的正式受理(美国专利受理号: US 16907334)。这标志着中科院分子影像重点实验室在新型磁粒子成像核心关键技术的知识产权保护上迈出了关键性的一步。

  这两项国家发明专利以基于高梯度磁场叠加所构成的无磁场线为基础,突破了活体磁粒子成像的系列核心关键技术,构建了磁粒子成像快速重建方法,提出了基于无磁场线的无惯性驱动的技术体系,突破了磁粒子成像在灵敏度、分辨率和成像速度等性能指标相互制约的技术瓶颈。通过构建一套从采集到重建的完整系统,用于肿瘤演进、肿瘤免疫、神经系统和心脑血管疾病的研究。

  在中国科学院关键技术研发团队项目的支持下,该实验室前期已成功研制出实验原型机,并初步验证了磁粒子成像技术在肿瘤检测和动脉粥样硬化斑块高灵敏检测等应用上的可行性。基于这两项发明专利技术,该实验室团队同步开展具有临床价值的磁粒子成像设备的研制。该设备的研制对于实现前沿医学影像设备的初始创新,引领未来高端医疗设备的发展具有重要意义。

 

(供稿:惠辉)

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